『新型电池监控IC（BMIC）测试芯片』
该技术由松下和日本立命馆大学的Masahiro Fukui教授合作开发，其中前者负责开发新的电池管理IC（BMIC）测试芯片、测量算法以及软件部分，后者负责实际评估新技术的性能。据介绍称，该芯片内置电化学阻抗测量功能，该功能可使用交流电流激励方法对锂离子堆叠电池模块进行测试。
据悉，普通BMIC技术可测量由6-14个电芯堆栈组成的锂离子电池组电压，但松下的新技术可从多达200个串联电芯中获取电压数据，以监控电池状态、评估电池剩余续航里程、剩余价值。
